


技術(shù)指標(biāo)
·掃描長度:≤10mm;
·垂直測量范圍(最大臺階高度):≤1.9mm;
·掃描速度:2μm/s到200μm/s;
·掃描方式:探針雙向移動(dòng)、平臺靜止;
·采樣頻率:50Hz、100Hz、200Hz、500Hz、1000Hz,最大掃描數(shù)據(jù)采集點(diǎn):100,000點(diǎn);
·垂直范圍分辨率:550μm臺階高度內(nèi)測量分辨率0.328;
·掃描路徑:在160mm直徑范圍內(nèi)測量任意點(diǎn);
·采樣平臺最大移動(dòng)范圍(手動(dòng)):X軸:151mm,Y軸:80mm,Θ:360°;
·最大樣品厚度:21mm;
·最大樣品重量:1kg。
主要用途
Alpha-Step IQ 輪廓儀是一種計(jì)算機(jī)化的、高靈敏度的表面輪廓儀,可測量樣品粗糙度、波紋度和厚度,應(yīng)用范圍非常廣泛??蓽y量各種材料,包括:
·磁盤
·半導(dǎo)體晶圓
·精密加工和拋光面
·微電子陶瓷
·平面顯示器玻璃
·光學(xué)表面