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非平衡少數(shù)載流子的壽命是半導(dǎo)體材料的一個(gè)基本參數(shù)，它的大小直接影響晶體管的性能。
半導(dǎo)體材料在一定的外界條件下（如光注入或電注入）所產(chǎn)生的比熱平衡態(tài)時(shí)多出來(lái)的那部分電子空穴對(duì)稱(chēng)為非平衡載流子。在外界條件取消后，這種非平衡載流子即通過(guò)復(fù)合而消失，使材料的載流子數(shù)重新恢復(fù)到平衡態(tài)的數(shù)值，非平衡載流子能存在的平均時(shí)間稱(chēng)為壽命。少數(shù)載流子的壽命則表示非平衡少數(shù)載流子（如N型硅中注入的空穴）能存在的時(shí)間的平均值。
用脈沖光照射半導(dǎo)體材料時(shí)，便產(chǎn)生光激發(fā)的非平衡載流子。光照停止后，非平衡載流子便由于復(fù)合而逐漸消失，樣品的附加電導(dǎo)也相應(yīng)衰退，在簡(jiǎn)單情況下非平衡載流子的濃度不太大（小注入），非平衡載流子的數(shù)目在半導(dǎo)體內(nèi)部因素作用下，按指數(shù)規(guī)律隨時(shí)間衰減，即：△P（或△n） e-vz。
時(shí)間常數(shù)t標(biāo)志非平衡載流子的壽命值。
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