設(shè)備簡介
Lam750(S)型紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)為雙光束,雙單色器,四區(qū)分段的扇形信號收集的斬波器,低雜散光指標(biāo),用于材料定性的無損測定。帶60mm積分球和軟件的Lambd750 紫外/可見(近紅外)分光光度計(jì),波長范圍: Lambda750為190~2500nm,整機(jī)及光學(xué)系統(tǒng)采用宇航技術(shù)的硬件:整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)均采用涂覆SiO2的全息刻線光柵(紫外/可見刻線數(shù)為1440條/mm,近紅外360條/mm),分光系統(tǒng)采用最先進(jìn)的CSSC技術(shù)(四區(qū)分段的扇形信號收集的斬波器技術(shù),黑區(qū)/樣品/黑區(qū)/參比循環(huán))采用預(yù)校準(zhǔn)并可自動切換的碘鎢燈與氘燈;寬大的樣品倉:可放入各種附件并將光路調(diào)整至最佳,可選附件最多(如積分球、固定/可變角的相對/絕對鏡反射附件等)穩(wěn)定性好、基線平直度高、雜散光極低! 儀器及其穩(wěn)定、經(jīng)久耐用。
主要技術(shù)參數(shù)及功能
* 電壓:220VAC±10%
* 室溫:15~30℃
* 相對濕度:20%~80%
* 光學(xué)系統(tǒng):雙光束,雙單色器,整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)采用涂有SiO2保護(hù)層的反射光學(xué)元件,全息刻線光柵刻線密度為1440條/mm(紫外可見)、360條/mm(近紅外),四區(qū)分段的扇形信號收集的斬波器。
* 光譜范圍:190-2500nm ,波長指示:0.01nm步進(jìn)
* 檢測器:光電倍增管(UV~VIS),冷的PbS(NIR)
* 帶寬:帶寬指示:自動控制
(1)UV~VIS:0.17nm~5nm, 0.01nm步進(jìn)
(2)NIR:0.20nm~20.00nm,0.04nm步進(jìn)
* 波長精確度:自動波長校正。
(1)UV~VIS:±0.15nm;
(2)NIR:±0.1nm。
*波長重復(fù)性:
(1)UV~VIS:±0.06nm。
(2)NIR:±0.1nm。
* 雜散光:0.00008%(NaI220nm10g/L光
0.00005%(NaNO2340nm50g/L光程10mm);
0.0015%(氯仿1690nm光程10mm)
* 光度計(jì)準(zhǔn)確度:0 ~0.5Abs,±0.0006Abs;0.5 ~1.0Abs,±0.0012Abs;遵循NISTSRM930方法為±0.3%T。
* 光度計(jì)重復(fù)性:小于0.001A。
* 基線平直度: <±0.0008Abs;
* 儀器線性范圍:6A
* 噪聲:<0.00005A。